Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 DPD 25.99 Paczkomat 13.99 ORLEN Paczka 10.99 Poczta Polska 18.99

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Język AngielskiAngielski
Książka Miękka
Książka Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin
Kod Libristo: 02254239
Wydawnictwo Springer-Verlag New York Inc., czerwiec 2013
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray... Cały opis
? points 304 b
519.75
Dostępna u dostawcy w małych ilościach Wysyłamy za 10-14 dni

30 dni na zwrot towaru


Mogłoby Cię także zainteresować


Field Emission Scanning Electron Microscopy Nicolas Brodusch / Miękka
common.buy 380.05
Modern Electroplating, 5e Schlesinger / Twarda
common.buy 848.93
Neisseria meningitidis Myron Christodoulides / Miękka
common.buy 747.87
Beyond the Cultural Turn Victoria E Bonnell / Miękka
common.buy 182.95
Particle Size Measurement Terence Allen / Miękka
common.buy 519.75
Graphite Intercalation Compounds II Stuart A. Solin / Miękka
common.buy 263.73
Jake (Tshivenda) Janet Hurst-Nicholson / Miękka
common.buy 20.66
Handbook on Digital Learning for K-12 Schools Ann Marcus-Quinn / Twarda
common.buy 845.72
Thirteen By Corwin: Radio Dramas Norman Lewis Corwin / Miękka
common.buy 174.11
Conductive Polymers Raymond B. Seymour / Miękka
common.buy 263.73
Slow Cooker Favourites Jean Pare / Pierścieniowa
common.buy 87.20
Tucker S M Shade / Miękka
common.buy 66.83

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972. In order to provide a textbook containing the materials presented in the original course, the lecturers collaborated to write the book Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), which was published by Plenum Press in 1975. The course con tinued to evolve and expand in the ensuing years, until the volume of material to be covered necessitated the development of separate intro ductory and advanced courses. In 1981 the lecturers undertook the project of rewriting the original textbook, producing the volume Scan ning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (SEMXM). This vol ume contained substantial expansions of the treatment of such basic material as electron optics, image formation, energy-dispersive x-ray spectrometry, and qualitative and quantitative analysis. At the same time, a number of chapters, which had been included in the PSEM vol ume, including those on magnetic contrast and electron channeling con trast, had to be dropped for reasons of space. Moreover, these topics had naturally evolved into the basis of the advanced course. In addition, the evolution of the SEM and microanalysis fields had resulted in the devel opment of new topics, such as digital image processing, which by their nature became topics in the advanced course.

Informacje o książce

Pełna nazwa Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Język Angielski
Oprawa Książka - Miękka
Data wydania 2013
Liczba stron 454
EAN 9781475790290
ISBN 1475790295
Kod Libristo 02254239
Waga 692
Wymiary 152 x 229 x 26
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo