Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
ORLEN Paczka 10.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
Jak kupować
Pomoc
Dostawa
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
ORLEN Paczka 10.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
Doradca ds. zakupów
Jesteśmy tu dla Ciebie!
(32) 444 93 66
Moje konto
Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści.
Załóż konto bezpłatnie
▸
Pusty :-(
0
Advances in Scanning Probe Microscopy
Język
Angielski
Angielski
Książka
Twarda
Covers several important topics in the field of scanning probe microscopy. These include a realistic...
Cały opis
Kod Libristo: 08908922
?
304 b
304 b
516.18
zł
Dostępna u dostawcy w małych ilościach
Wysyłamy za 13-16 dni
30 dni na zwrot towaru
Covers several important topics in the field of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors, and more. This book is of interest to those involved in using scanning probe microscopy.
Informacje o książce
Pełna nazwa
Advances in Scanning Probe Microscopy
Autor
T. Sakurai, Y. Watanabe
Język
Angielski
Angielski
Oprawa
Książka - Twarda
Data wydania
2000
Liczba stron
343
EAN
9783540667186
ISBN
9783540667186
Kod Libristo
08908922
Waga
705
Wymiary
155 x 235 x 24
Kategoria
Matematyka i nauki ścisłe
>
Fizyka
>
Stany skupienia materii
>
Fizyka materii skondensowanej (ciał stałych i cieczy)
Matematyka i nauki ścisłe
>
Chemia
>
Chemia analityczna
>
Analiza widmowa, spektrochemia, spektrometria mas
Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe
>
Elektronika i telekomunikacja
>
Inżynieria elektroniczna
>
Urządzenia i materiały elektroniczne
Publikacje dla dzieci i młodzieży, edukacja
>
Materiały edukacyjne
>
Edukacja – matematyka, nauki ścisłe i technika
>
Edukacja – nauka i nauki przyrodnicze
