Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 DPD 25.99 Paczkomat 13.99 Poczta Polska 18.99 ORLEN Paczka 10.99

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3

Książka Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3 Samuel H. Cohen
Kod Libristo: 02254200
Wydawnictwo Springer-Verlag New York Inc., maj 2013
This proceedings is based on the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposi... Cały opis
? points 467 b
794.37
Dostępna u dostawcy w małych ilościach Wysyłamy za 13-16 dni

30 dni na zwrot towaru


Mogłoby Cię także zainteresować


This proceedings is based on the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposium. The purpose of the meeting was to provide an interface between scientists, engineers, representatives of industry, government, and academia, all of whom have a common interest in probe microscopies. The papers have been written by experts in probe microscopy from around the world, representing a wide range of disciplines, including physics, biotechnology, nanotechnology, chemistry, and materials science.

Informacje o książce

Pełna nazwa Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
Język Angielski
Oprawa Książka - Miękka
Data wydania 2013
Liczba stron 210
EAN 9781475781847
ISBN 1475781849
Kod Libristo 02254200
Waga 426
Wymiary 178 x 254 x 13
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo