phone (32) 444 93 66
LIBRISTO 0
Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 zł DPD 25.99 zł Paczkomat 13.99 zł ORLEN Paczka 10.99 zł Poczta Polska 18.99 zł
phone Kontakt phoneJak kupować

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Język AngielskiAngielski
Książka Twarda
Książka Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis Alvin W. Czanderna
Kod Libristo: 01378961
Wydawnictwo Springer Science+Business Media, październik 1998
Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first b... Cały opis
? points 467 b
793.83 zł
Dostępna u dostawcy w małych ilościach Wysyłamy za 13-16 dni

30 dni na zwrot towaru

Mogłoby Cię także zainteresować

Etymologie XVI Isidor ze Sevilly / binding.
common.buy 36.69 zł
Zatmenie mysle Linda Chopin / Miękka
common.buy 31.60 zł
Přednášky o divadle a umění collegium / Twarda
common.buy 104.30 zł
Senzorická vkládačka Zvířátka / Puzzle
common.buy 52.65 zł
Impara il Norvegese - Velocemente / Facilmente / Efficiente: 2000 Vocaboli Chiave Pinhok Languages / Miękka
common.buy 62.32 zł
Infectious Diseases and Substance Abuse Herman Friedman / Miękka
common.buy 793.83 zł
REBIRTH OF NAZISM Ron Berger / Miękka
common.buy 34.50 zł
Zapowiedź
Discovering Computers Misty E Vermaat / Miękka
common.buy 486.26 zł
Quando Dio chiama. I gesuiti e le missioni nelle Indie (1560-1960) Emanuele Colombo / Miękka
common.buy 132.03 zł
Dating Advice: How to Seduce Women Kevin Cole / Miękka
common.buy 36.39 zł
Cultural Divinity: The Melting Pot James L Powell Jr / Miękka
common.buy 92.24 zł
Zapowiedź
Outlaw Mark Sullivan / Miękka
common.buy 42.27 zł
Aristotle's Politics Aristotle / Miękka
common.buy 143.80 zł
Security Protocols Jonathan Anderson / Miękka
common.buy 261.68 zł
Iron and Steel William F Hosford / Twarda
common.buy 313.24 zł
Konfliktmanagement Saskia-Maria Weh / Miękka
common.buy 133.23 zł

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the principles, techniques, and methods vital for efficient surface analysis. A wealth of practical information is assembled in this single volume, including summary tables, extensive references, and 251 illustrative figures.

Informacje o książce

Pełna nazwa Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Autor Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell
Język Angielski
Oprawa Książka - Twarda
Data wydania 1998
Liczba stron 430
EAN 9780306458965
ISBN 0306458969
Kod Libristo 01378961
Wydawnictwo Springer Science+Business Media
Waga 1790
Wymiary 156 x 234 x 25

Kategoria

Matematyka i nauki ścisłe > Chemia > Chemia fizyczna > Fizykochemia powierzchni
Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Inżynieria mechaniczna i materiałowa > Materiałoznawstwo > Testowanie materiałów
Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Elektronika i telekomunikacja > Inżynieria elektroniczna > Urządzenia i materiały elektroniczne
Matematyka i nauki ścisłe > Chemia > Chemia analityczna
Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Technika – zagadnienia ogólne > Nanotechnologia
Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Energetyka i inżynieria energetyczna > Inżynieria elektryczna
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe
Zapomniane hasło

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo