Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
ORLEN Paczka 11.02 zł
Jak kupować
Pomoc
Dostawa
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
ORLEN Paczka 11.02 zł
Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
Doradca ds. zakupów
Jesteśmy tu dla Ciebie!
(32) 444 93 66
Moje konto
Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści.
Załóż konto bezpłatnie
▸
Pusty :-(
0
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Język
Angielski
Angielski
Książka
Miękka
Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first b...
Cały opis
Kod Libristo: 01421940
?
467 b
467 b
795.58
zł
Dostępna u dostawcy w małych ilościach
Wysyłamy za 13-16 dni
30 dni na zwrot towaru
Mogłoby Cię także zainteresować
Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the principles, techniques, and methods vital for efficient surface analysis. A wealth of practical information is assembled in this single volume, including summary tables, extensive references, and 251 illustrative figures.
Informacje o książce
Pełna nazwa
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Język
Angielski
Angielski
Oprawa
Książka - Miękka
Data wydania
2010
Liczba stron
430
EAN
9781441932990
ISBN
1441932992
Kod Libristo
01421940
Wydawnictwo
Springer-Verlag New York Inc.
Waga
1390
Wymiary
152 x 229 x 25
