phone (32) 444 93 66
LIBRISTO 0
Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 zł DPD 25.99 zł Paczkomat 13.99 zł ORLEN Paczka 10.99 zł Poczta Polska 18.99 zł
phone Kontakt phoneJak kupować

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Język AngielskiAngielski
Książka Twarda
Książka CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Andrei Pavlov
Kod Libristo: 01418343
Wydawnictwo Springer-Verlag New York Inc., maj 2008
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of top... Cały opis
? points 494 b
844.26 zł
Dostępna u dostawcy w małych ilościach Wysyłamy za 13-16 dni

30 dni na zwrot towaru

Mogłoby Cię także zainteresować

TOP
Our Violent Ends CHLOE GONG / Miękka
common.buy 33.76 zł
TOP
The 7 1/2 Deaths of Evelyn Hardcastle Stuart Turton / Miękka
common.buy 62.53 zł
TOP
House of Hollow / Miękka
common.buy 39.98 zł
The Oxygen Advantage Patrick McKeown / Miękka
common.buy 69.84 zł
Batman Vol. 3: Death of the Family (The New 52) Scott Snyder / Miękka
common.buy 61.33 zł
Naked Pussy On Funny Chairs / Twarda
common.buy 214.87 zł
Rogan Simon Rogan / Twarda
common.buy 161.25 zł
Master of Crows Grace Draven / Miękka
common.buy 62.83 zł
Curse of the Wendigo Rick Yancey / Miękka
common.buy 51.40 zł
Scottish Gaelic Tattoo Handbook Emily (Ph.D. in Anthropology from University of Chicago; former editor of the Small Languages and Small Language Communities section of the Internatio / Miękka
common.buy 45.79 zł
Villainous Vol. 1 Stonie Williams / Miękka
common.buy 54.81 zł
Punk Rock John Robb / Miękka
common.buy 101.82 zł
Twin-to-Twin Transfusion Syndrome Daniel W Skupski / Twarda
common.buy 756.77 zł
A Modest Proposal Jonathan Swift / Miękka
common.buy 36.67 zł
Figure of Dante Jerome Mazzaro / Twarda
common.buy 445.98 zł
Coming Home for Good: Personal Reflections on Homelessness Roger Nuttall / Miękka
common.buy 50.50 zł

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.

Informacje o książce

Pełna nazwa CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Autor Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
Język Angielski
Oprawa Książka - Twarda
Data wydania 2008
Liczba stron 194
EAN 9781402083624
ISBN 1402083629
Kod Libristo 01418343
Wydawnictwo Springer-Verlag New York Inc.
Waga 468
Wymiary 166 x 239 x 19

Kategoria

Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Elektronika i telekomunikacja > Inżynieria elektroniczna > Obwody i komponenty elektroniczne
Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Technika – zagadnienia ogólne > Inżynieria – zagadnienia ogólne
Informatyka i technologie informacyjne (IT) > Sprzęt komputerowy > Nośniki danych i urządzenia peryferyjne
Informatyka i technologie informacyjne (IT) > Informatyka (nauka) > Projektowanie architektury komputerowej i projektowanie logiczne
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe
Zapomniane hasło

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo