Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 DPD 25.99 Paczkomat 13.99 ORLEN Paczka 10.99 Poczta Polska 18.99

Conductive Atomic Force Microscopy

Język AngielskiAngielski
Książka Twarda
Książka Conductive Atomic Force Microscopy Mario Lanza
Kod Libristo: 15737297
Wydawnictwo Wiley-VCH Verlag GmbH, październik 2017
The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of el...
? points 409 b
699.14
50 % szansa Przeszukamy cały świat Kiedy dostanę książkę?

30 dni na zwrot towaru


Mogłoby Cię także zainteresować


Scanning Electron Microscopy Ludwig Reimer / Twarda
common.buy 1 543.02
GRT SOURCE WRITE SOURCE TEXAS Great Source / Twarda
common.buy 101.70
Rough Patch Nicole Markotic / Miękka
common.buy 60.88
Roadmap of Scanning Probe Microscopy Seizo Morita / Twarda
common.buy 798.44
Functional and Ecological Xylem Anatomy Uwe G Hacke / Miękka
common.buy 442.05
No Prince Charming Michelle Helliwell / Miękka
common.buy 73.01
Applied Plant Cell Biology Peter Nick / Twarda
common.buy 938.07

The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.

Informacje o książce

Pełna nazwa Conductive Atomic Force Microscopy
Autor Mario Lanza
Język Angielski
Oprawa Książka - Twarda
Data wydania 2017
Liczba stron 384
EAN 9783527340910
ISBN 9783527340910
Kod Libristo 15737297
Wydawnictwo Wiley-VCH Verlag GmbH
Waga 978
Wymiary 251 x 176 x 25
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo