Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 DPD 25.99 Paczkomat 13.99 ORLEN Paczka 10.99 Poczta Polska 18.99

Digital Timing Macromodeling for VLSI Design Verification, 1

Język AngielskiAngielski
Książka Miękka
Książka Digital Timing Macromodeling for VLSI Design Verification, 1 Jeong-Taek Kong
Kod Libristo: 02016333
Wydawnictwo Springer, Berlin, październik 2012
Digital Timing Macromodeling for VLSI Design Verification first of all provides an extensive history... Cały opis
? points 467 b
793.83
Dostępna u dostawcy w małych ilościach Wysyłamy za 13-16 dni

30 dni na zwrot towaru


Mogłoby Cię także zainteresować


Fange endlich an zu leben Ernst Crameri / Miękka
common.buy 136.42
Montenegro 2 Volume Hardback Set Bejtullah D. Destani / Twarda
common.buy 3 029.03
Gun-free zones Heather Sutton / Miękka
common.buy 81.57
Contours of the World Economy 1-2030 AD Maddison / Twarda
common.buy 1 064.09
Cinderella Charles Perrault / Miękka
common.buy 31.31
Naturform und bildnerische Prozesse Robert Felfe / Twarda
common.buy 375.07
Angina Graham Jackson / Miękka
common.buy 115.38
Goethes Johann Wolfgang Von Goethe / Miękka
common.buy 118.47
Prophets and Kings Video Study Ray Vander Laan / DVD
common.buy 143.80

Digital Timing Macromodeling for VLSI Design Verification first of all provides an extensive history of the development of simulation techniques. It presents detailed discussion of the various techniques implemented in circuit, timing, fast-timing, switch-level timing, switch-level, and gate-level simulation. It also discusses mixed-mode simulation and interconnection analysis methods. The review in Chapter 2 gives an understanding of the advantages and disadvantages of the many techniques applied in modern digital macromodels. §The book also presents a wide variety of techniques for performing nonlinear macromodeling of digital MOS subcircuits which address a large number of shortcomings in existing digital MOS macromodels. Specifically, the techniques address the device model detail, transistor coupling capacitance, effective channel length modulation, series transistor reduction, effective transconductance, input terminal dependence, gate parasitic capacitance, the body effect, the impact of parasitic RC-interconnects, and the effect of transmission gates. The techniques address major sources of errors in existing macromodeling techniques, which must be addressed if macromodeling is to be accepted in commercial CAD tools by chip designers. The techniques presented in Chapters 4-6 can be implemented in other macromodels, and are demonstrated using the macromodel presented in Chapter 3. The new techniques are validated over an extremely wide range of operating conditions: much wider than has been presented for previous macromodels, thus demonstrating the wide range of applicability of these techniques. §

Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo