phone (32) 444 93 66
LIBRISTO 0
Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 zł DPD 25.99 zł Paczkomat 13.99 zł ORLEN Paczka 10.99 zł Poczta Polska 18.99 zł
phone Kontakt phoneJak kupować

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

Język AngielskiAngielski
Książka Twarda
Książka Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics David G. Seiler
Kod Libristo: 01391053
Wydawnictwo Springer, Berlin, listopad 2006
This book contains peer-reviewed papers presented at the 2007 International Conference on Frontiers... Cały opis
? points 406 b
693.43 zł
50 % szansa Przeszukamy cały świat Kiedy dostanę książkę?

30 dni na zwrot towaru

Mogłoby Cię także zainteresować

TOP
Český jazyk pro SŠ – Mluvnice Ivo Martinec / Miękka
common.buy 59.12 zł
Candide Voltaire / Miękka
common.buy 99.91 zł
Microtia and Atresia - Combined Approach by Plastic and Otologic Surgery aga / Twarda
common.buy 928.75 zł
Hopkins Touch David Roll / Twarda
common.buy 140.60 zł
Lives of the Most Eminent Painters Sculptors and Architects Vol. 03 (of 10), Filarete and Simone to Mantegna Giorgio Vasari / Miękka
common.buy 155.74 zł
Der Nachrichtenwert Im Situativen Kontext Ingrid A. Uhlemann / Miękka
common.buy 216.57 zł
Viaz'ma Catastrophe, 1941 Lev Lopukhovsky / Twarda
common.buy 275.00 zł
Garden of One's Own Tam King Fai / Miękka
common.buy 159.04 zł
Komm, Emil, wir gehn heim! Hans Traxler / Twarda
common.buy 52.20 zł
Niemand, der mit mir geht Nadine Gordimer / Miękka
common.buy 62.83 zł

This book contains peer-reviewed papers presented at the 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology. It emphasizes the frontiers of innovation in the characterization and metrology needed to advance nanoelectronics. It provides an effective portrayal of the industry s characterization and metrology needs and how they are being addressed. It also offers a foundation for further advances in metrology and new ideas for research and development.

Informacje o książce

Pełna nazwa Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
Autor David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald
Język Angielski
Oprawa Książka - Twarda
Data wydania 2007
Liczba stron 578
EAN 9780735404410
Kod Libristo 01391053
Wydawnictwo Springer, Berlin
Waga 1586
Wymiary 216 x 279 x 41

Kategoria

Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Technika – zagadnienia ogólne > Inżynieria urządzenia pomiarowe
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe
Zapomniane hasło

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo