Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 DPD 25.99 Paczkomat 13.99 ORLEN Paczka 10.99 Poczta Polska 18.99

Nanometer Technology Designs

Język AngielskiAngielski
Książka Miękka
Książka Nanometer Technology Designs Nisar Ahmed
Kod Libristo: 01423022
Wydawnictwo Springer-Verlag New York Inc., grudzień 2011
Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new c... Cały opis
? points 304 b
519.18
Dostępna u dostawcy w małych ilościach Wysyłamy za 13-16 dni

30 dni na zwrot towaru


Mogłoby Cię także zainteresować


Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.

Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo