Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 DPD 25.99 Paczkomat 13.99 Poczta Polska 18.99 ORLEN Paczka 11.02

Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires

Język AngielskiAngielski
Książka Miękka
Książka Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires Stephan Pröller
Kod Libristo: 01668601
Wydawnictwo Grin Publishing, październik 2011
Bachelor Thesis from the year 2011 in the subject Physics - Other, grade: 1,0, LMU Munich, language:... Cały opis
? points 128 b
218.68
Dostępna u dostawcy Wysyłamy za 15-20 dni

30 dni na zwrot towaru


Mogłoby Cię także zainteresować


Schau her - ich brauche keine Windel mehr Julia Volmert / Leporelo
common.buy 38.27
Ethique de la Recherche Et Des Essais Cliniques Boucif Debab-Z / Miękka
common.buy 175.10
Coleopterorum catalo gus 55 S. Schenkling / Miękka
common.buy 129.82
Organized Uncertainty Michael Power / Miękka
common.buy 209.48
Concepts in Law and Economics Jim Leitzel / Twarda
common.buy 263.46

Bachelor Thesis from the year 2011 in the subject Physics - Other, grade: 1,0, LMU Munich, language: English, abstract: In this thesis the InAs(111)B surface and III-V semiconductor nanowires are investigated using scanning tunneling microscopy and spectroscopy. The morphology of InAs nanowires grown without gold particle is studied. Radial nanowire heterostructure such as InP core with InAs shell are analyzed and the wurtzite {10-10} top facet is identified. Furthermore nanowire heterostructures with an InP core and InAs shell with induced stacking faults possibly giving rise to quantum dots, which could be used as quantum dot lasers or for quantum information processing, are investigated. A model is obtained based on morphology analysis and as top facet the wurtzite {10-10} and{11-20} are found. Furthermore stacking faults on top of a nanowire are seen.The analysis of the InAs(111)B surface shows the hexagonal pattern. Defects are determined to occur due to missing In atoms in the first layer. Spectroscopy next to those defects indicated no influence on the local electronic structure.

Informacje o książce

Pełna nazwa Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires
Język Angielski
Oprawa Książka - Miękka
Data wydania 2011
Liczba stron 64
EAN 9783656010494
ISBN 3656010498
Kod Libristo 01668601
Wydawnictwo Grin Publishing
Waga 95
Wymiary 148 x 210 x 4
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo