Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
ORLEN Paczka 11.02 zł
Jak kupować
Pomoc
Dostawa
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
ORLEN Paczka 11.02 zł
Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
Doradca ds. zakupów
Jesteśmy tu dla Ciebie!
(32) 444 93 66
Moje konto
Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści.
Załóż konto bezpłatnie
▸
Pusty :-(
0
Semiconductor Material and Device Characterization 3e
Język
Angielski
Angielski
Książka
Twarda
Semiconductor Material and Device Characterization is the only book on the market devoted to the cha...
Cały opis
Kod Libristo: 01389606
?
680 b
680 b
1 158.10
zł
Dostępna u dostawcy
Wysyłamy za 9-12 dni
30 dni na zwrot towaru
Mogłoby Cię także zainteresować
/
Twarda
1 006.78
zł
Semiconductor Material and Device Characterization is the only book on the market devoted to the characterization techniques used by the modern semiconductor industry to measure diverse semiconductor materials and devices. It covers the full range of electrical and optical characterization methods while thoroughly treating the more specialized chemical and physical techniques. In the third edition, Professor Schroder has rewritten parts of each chapter and added two new chapters (Charge Based Measurements and Failure Analysis and Reliability), redrawn and updated most figures, and included new problems and approximately 100 new references.
Informacje o książce
Pełna nazwa
Semiconductor Material and Device Characterization 3e
Autor
Dieter K. Schroder
Język
Angielski
Angielski
Oprawa
Książka - Twarda
Data wydania
2006
Liczba stron
800
EAN
9780471739067
ISBN
0471739065
Kod Libristo
01389606
Wydawnictwo
John Wiley & Sons Inc
Waga
1324
Wymiary
243 x 238 x 51
