Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
ORLEN Paczka 11.02 zł
Jak kupować
Pomoc
Dostawa
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
ORLEN Paczka 11.02 zł
Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
Doradca ds. zakupów
Jesteśmy tu dla Ciebie!
(32) 444 93 66
Moje konto
Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści.
Załóż konto bezpłatnie
▸
Pusty :-(
0
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Język
Angielski
Angielski
Książka
Twarda
This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on...
Cały opis
Kod Libristo: 08632902
?
304 b
304 b
517.33
zł
Dostępna u dostawcy w małych ilościach
Wysyłamy za 13-16 dni
30 dni na zwrot towaru
Mogłoby Cię także zainteresować
This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.
Informacje o książce
Pełna nazwa
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Autor
Hao Yu
Język
Angielski
Angielski
Oprawa
Książka - Twarda
Data wydania
2012
Liczba stron
306
EAN
9781461407874
ISBN
9781461407874
Kod Libristo
08632902
Wydawnictwo
Springer-Verlag New York Inc.
Waga
670
Wymiary
155 x 235 x 23
Kategoria
Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe
>
Elektronika i telekomunikacja
>
Inżynieria elektroniczna
>
Obwody i komponenty elektroniczne
Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe
>
Technika – zagadnienia ogólne
>
Inżynieria – zagadnienia ogólne
