Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 DPD 25.99 Paczkomat 13.99 Poczta Polska 18.99 ORLEN Paczka 10.99

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Język AngielskiAngielski
Książka Twarda
Książka Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits Sandeep K. Goel
Kod Libristo: 06726976
Wydawnictwo Taylor & Francis Inc, październik 2013
? points 680 b
1 155.93
50 % szansa Przeszukamy cały świat Kiedy dostanę książkę?

30 dni na zwrot towaru


Mogłoby Cię także zainteresować


Franz Schubert Franz Schubert / Miękka
common.buy 109.17
Essentials of English Grammar Otto Jespersen / Miękka
common.buy 266.15
Israel's Reprisal Policy, 1953-1956 Ze'ev Drory / Miękka
common.buy 337.10
Revealing Moment and Other Plays Oscar W. Firkins / Miękka
common.buy 305.47

Informacje o książce

Pełna nazwa Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Język Angielski
Oprawa Książka - Twarda
Data wydania 2013
Liczba stron 259
EAN 9781439829417
ISBN 9781439829417
Kod Libristo 06726976
Wydawnictwo Taylor & Francis Inc
Waga 598
Wymiary 175 x 238 x 22
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo