Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł

InPost 13.99 zł DPD 25.99 zł Paczkomat 13.99 zł Poczta Polska 18.99 zł ORLEN Paczka 10.99 zł

Kontakt

Jak kupować

Pomoc

Moje konto

▸ Pusty :-(

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Name: Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 16203913
Price: 457.65 PLN
Availability: InStock

Język

Angielski

Książka Miękka

Kod Libristo: 16203913

Wydawnictwo Taylor & Francis Ltd, marzec 2017

Kod Libristo: 16203913

269 b

457.65 zł

Na zamówienie Wysyłamy za 17-26 dni

30 dni na zwrot towaru

Mogłoby Cię także zainteresować

La Teoría Liberal de la Justicia.

/ Miękka

58.97 zł

Popular resorts and how to reach them John Bachelder

/ Miękka

107.97 zł

Food From The Heart Regina Crawford

/ Miękka

53.58 zł

Informacje o książce

Pełna nazwa Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Język

Angielski

Oprawa Książka - Miękka

Data wydania 2017

Liczba stron 259

EAN 9781138075771

ISBN 9781138075771

Kod Libristo 16203913

Wydawnictwo Taylor & Francis Ltd

Waga 490

Wymiary 156 x 234

Kategoria

Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Elektronika i telekomunikacja > Inżynieria elektroniczna > Obwody i komponenty elektroniczne

Technika, inżynieria i rolnictwo, procesy przemysłowe > Technika – zagadnienia ogólne > Nanotechnologia

Podaruj tę książkę jeszcze dziś

To łatwe

1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Dostawa

Doradca ds. zakupów