Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
ORLEN Paczka 10.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
Jak kupować
Pomoc
Dostawa
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
ORLEN Paczka 10.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
Doradca ds. zakupów
Jesteśmy tu dla Ciebie!
(32) 444 93 66
Moje konto
Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści.
Załóż konto bezpłatnie
▸
Pusty :-(
0
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Język
Angielski
Angielski
Książka
Twarda
The book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-a...
Cały opis
Kod Libristo: 18912854
?
220 b
220 b
376.42
zł
Dostępna u dostawcy
Wysyłamy za 9-12 dni
30 dni na zwrot towaru
Mogłoby Cię także zainteresować
/
Twarda
445.38
zł
The book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. The book will be suitable for the researchers working on power- and thermal-aware design and test of digital VLSI chips--
Informacje o książce
Pełna nazwa
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Autor
Chattopadhyay, Santanu (Department of Electronics and Electrical Communication EngineeringIndian Institute of Technology Kharagpur, West Bengal, India
Język
Angielski
Angielski
Oprawa
Książka - Twarda
Data wydania
2018
Liczba stron
118
EAN
9780815378822
ISBN
9780815378822
Kod Libristo
18912854
Wydawnictwo
Taylor & Francis Inc
Waga
296
Wymiary
225 x 145 x 14
