Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
ORLEN Paczka 10.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
Jak kupować
Pomoc
Dostawa
InPost 13.99 zł
DPD 25.99 zł
Paczkomat 13.99 zł
ORLEN Paczka 10.99 zł
Poczta Polska 18.99 zł
Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
Doradca ds. zakupów
Jesteśmy tu dla Ciebie!
(32) 444 93 66
Moje konto
Zostań członkiem wspólnoty miłośników książek z całego świata i zyskaj mnóstwo korzyści.
Załóż konto bezpłatnie
▸
Pusty :-(
0
Thermal Testing of Integrated Circuits
Język
Angielski
Angielski
Książka
Twarda
Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric sy...
Cały opis
Kod Libristo: 08348631
?
304 b
304 b
516.18
zł
Dostępna u dostawcy w małych ilościach
Wysyłamy za 13-16 dni
30 dni na zwrot towaru
Mogłoby Cię także zainteresować
/
Miękka
94.13
zł
/
Miękka
361.60
zł
Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. Abnormal status of this variable, both too high and too low, is sign of abnormal behavior in electronic systems. This title presents the feasibility to consider temperature as an observable for testing purposes.
Informacje o książce
Pełna nazwa
Thermal Testing of Integrated Circuits
Autor
Antonio Rubio
Język
Angielski
Angielski
Oprawa
Książka - Twarda
Data wydania
2002
Liczba stron
204
EAN
9781402070761
ISBN
9781402070761
Kod Libristo
08348631
Wydawnictwo
Springer-Verlag New York Inc.
Waga
547
Wymiary
160 x 240 x 18
