Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 DPD 25.99 Paczkomat 13.99 ORLEN Paczka 10.99 Poczta Polska 18.99

Yarn Clearing Parameters on Modern Electronic Clearer

Język AngielskiAngielski
Książka Miękka
Książka Yarn Clearing Parameters on Modern Electronic Clearer Vardhaman B. Chougule
Kod Libristo: 15867566
Wydawnictwo LAP Lambert Academic Publishing, listopad 2016
The electronic yarn clearer is an integral part of modern automatic winding machines because of incr... Cały opis
? points 126 b
213.41
Dostępna u dostawcy Wysyłamy za 9-11 dni

30 dni na zwrot towaru


Mogłoby Cię także zainteresować


L'homme ideal existe Diane Ducret / Miękka
common.buy 43.87
Les Derniers Numides TERSON-J / Miękka
common.buy 119.17
Mirin Kirin Erdal Ates / Miękka
common.buy 36.69
Wobblies of the World Peter Cole / Twarda
common.buy 500.33
Family Prayers Henry Thornton / Miękka
common.buy 159.45
Instructor's Guide to Teaching Military Students Suzane L. Bricker / Twarda
common.buy 346.15
Special Senate Investigation on Charges and Countercharges Involving Committee on Government Operations / Miękka
common.buy 54.24

The electronic yarn clearer is an integral part of modern automatic winding machines because of increasing demand for fault free yarn of long length for export as well as for domestic market. The book deals with study of the influence of clearing parameters like Cluster fault setting; lab pack options i.e. Surface index SFI/D and Variable Coefficient of Variation(VCV) settings of electronic yarn clearer on yarn quality. It is concluded that by keeping optimum cluster setting we can achieve better yarn quality in terms of normal and sensitive Imperfection with minimum cuts level and minimum tolerable Classimat faults. There is no significant effect of cluster faults on single thread strength, average count and Count Strength Product (CSP) as well as on objectionable Classimat faults. It was also found that there is no significant effect of lab pack options and cluster faults levels on CSP and Single thread Strength (RKM). But there is significant interaction effect of lab pack options and cluster faults on CSP and RKM. There is also significant difference in normal as well as sensitive Imperfections and hairiness of Normal cops and Rejected cops due to Cluster, SFI/D and VCV Option

Informacje o książce

Pełna nazwa Yarn Clearing Parameters on Modern Electronic Clearer
Język Angielski
Oprawa Książka - Miękka
Data wydania 2017
Liczba stron 132
EAN 9783330034280
Kod Libristo 15867566
Waga 215
Wymiary 150 x 220 x 8
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo